Nexperia PTVS36VS1UTR
" (72528)产品类型PTVS36VS1UTR产品可靠性的可靠性结果
该资料展示了产品类型PTVS36VS1UTR在2018年第一季度至第四季度期间进行的可靠性测试结果。测试包括AEC-Q101标准下的多种测试,如高温反向偏置(HTRB)、温度循环(TC)、高湿度高温反向偏置(H3TRB)等。结果显示,所有测试均未出现故障,计算出的故障因数(FIT)和平均故障间隔时间(MTBF)均表现出良好的可靠性。
Quality Information for Product Type PTVS36VS1UTR
Reliability Investigation Results for Product Type PTVS36VS1UTR
PTVS3V3P1以上产品质量信息
本资料由Nexperia Semiconductors提供,内容涉及PTVS3V3P1UP产品类型的质量与可靠性数据。资料包括产品型号、订购信息、认证等级、封装类型、晶圆厂、组装厂、ESD HBM测试结果、计算故障率和MTBF/MTTF等关键性能指标。资料强调数据仅供参考,不保证产品在超出规定条件下的性能。资料还说明了汽车级产品的认证标准、ESD测试方法和FIT、MTBF/MTTF的计算参数。
PTVS36VP1以上产品质量信息
Nexperia Semiconductors提供的PTVS36VP1UP产品质量信息包括:产品类型、订购信息、认证等级、封装类型、晶圆厂、组装厂、ESD HBM、计算故障率、MTBF/MTTF等。信息基于AEC-Q101标准,适用于汽车行业。资料中还包括了测试方法和计算参数的说明。
PTVS3V3D1BAL产品质量信息
本资料由Nexperia Semiconductors提供,针对PTVS3V3D1BAL产品类型的质量与可靠性数据进行概述。资料内容包括产品型号、订购信息、认证等级、封装类型、晶圆厂、组装厂、ESD HBM测试结果、计算失效率以及MTBF/MTTF等关键性能指标。资料强调,这些数据仅作为非约束性产品性能估计,不保证产品在超出规定条件下操作时能达到的性能水平。资料还说明了汽车级产品的认证标准、ESD测试方法以及FIT和MTBF/MTTF的计算参数。
PTVS30VP1以上产品质量信息
本资料由Nexperia Semiconductors提供,针对PTVS30VP1UP产品类型的质量与可靠性数据进行概述。资料包括产品型号、订购信息、认证等级、封装类型、晶圆厂、组装厂、ESD HBM测试结果、计算故障率以及MTBF/MTTF等关键性能指标。资料强调数据仅供参考,不保证超出规定条件下的产品性能。
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